Кантилеверы для АСМ, СЗМ от Компании ТипсНано

Кантилеверы для СЗМ, зонды СЗМ, зонды АСМ, калибровочные стандарты, кантилеверы для атомно-силовой микроскопии. Производство АСМ зондов, сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ, АСМ, СТМ, СБОМ, РАМАН)...

Кантилеверы, АСМ зонды, калибровочные решетки, TERS образцы, Высокоориентированный Пиролитический Графит, СБОМ зонды, настольные виброзащиты для атомно-силовых микроскопов, модульные напольные виброзащиты под тяжёлые установки, электронные микроскопы, пассивные виброзащиты для форвакуумных насосов, предназначены для решения исследовательских проблем, научных измерений в медицине, космосе и на военных предприятиях.

СЗМ (Сканирующая Зондовая Микроскопия) – общее название для ряда зондовых микроскопий, включая Атомно-Силовую Микроскопию (АСМ), Сканирующую Туннельную Микроскопию (СТМ), Сканирующую Ближнепольную Оптическую Микроскопию (СБОМ) и др. Принцип работы СЗМ в общем случае заключается в сканировании поверхности образца острийным зондовым датчиком, чье взаимодействие с поверхностью является короткодействующим.

Сканирование производится под управлением контроллера, поддерживающего в процессе сканирования постоянный уровень взаимодействия зонд СЗМ–образец. В этом случае изменение величины управляющего сканированием сигнала контроллера СЗМ отображает рельеф поверхности.

Указанные методики СЗМ для отображения рельефа являются базовыми, однако в процессе сканирования зонды СЗМ могут регистрировать, помимо рельефа, другие характеристики и свойства поверхности. Это могут быть наномеханические, электрические, магнитные и прочие физико-химические параметры.

Дополнительная информация об исследуемой поверхности, помимо рельефа, может быть получена также путем локальных измерений зависимости величины взаимодействия зонда СЗМ с образцом при изменении расстояния СЗМ зонд-образец. Такие методики СЗМ называются «Спектроскопиями» (СТМ Спектроскопии, АСМ Спектроскопии).

A wide range of goods — disposables for SPM: cantilevers, calibration gratings, test samples, HOPG, SNOM probes etc. Goods designed for a variety of applications, research problems, scientific measurements performed on the equipment produced by most of the world companies that manufacture scanning probe microscopes. We supply products of excellent quality, pre-tested for ASM, provide fast delivery and technical support. We also accept orders for custom products.